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Título: | Characterization of stratified media using high-resolution thin film measurement techniques |
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Autor/a: | Aguerri Cavero, Alberto |
Otros autores: | Laguarta Bertran, Ferran |
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Materia(s): | -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria dels materials -3D optical profiler -Numerical aperture -Thin film -Stratified media -Semiconductors de pel·lícula fina |
Derechos: | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
Tipo de documento: | Trabajo fin de máster |
Editor: | Universitat Politècnica de Catalunya |
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