Preparació de puntes de tungstè per a microscòpia d'efecte túnel (STM)
Quero Marín, Xavier
Langlais, Veronique
Universitat Autònoma de Barcelona. Escola d'Enginyeria

Data: 2010
Descripció: 80 p.
Resum: Es presenten els resultats experimentals obtinguts durant l'estudi sistemàtic realitzat de la preparació electroquímica de puntes de tungstè per al Microscopi d'Efecte Túnel (STM), fent servir dos electròlits: KOH i NaOH. L'estudi sobre la morfologia, longitud de la punta i radi de curvatura de la punta en funció del voltatge aplicat i les concentracions de l'electròlit es descriu al capítol 3. La caracterització de les puntes es va dur a terme, per una part, mitjançant un microscòpic electrònic de rastreig (SEM) i per l'altre banda, amb el ús de les puntes obtingudes al STM. En resumen, els resultats mostren que ambdós electròlits permeten obtenir puntes que es poden fer servir amb èxit per l'obtenció d'imatges amb l'STM. Les millors puntes són aquelles que s'obtenen dins de rangs de concentracions d'electròlit baixes, entre valor de 10 a 15% en pes pel NaOH i entre 10 i 20% pel KOH i rangs de voltatge entre 3 a 7 V pel NaOH i 4 a 8 V pel KOH. S'observa que es requereixen temps d'atac electroquímic menors fent servir com a electròlit NaOH. S'estudia, en el capítol 4, el tractament que requereix la punta per tal d'eliminar les impureses de la seva superfície. Es realitzen diferents proves amb tres mètodes de neteja: (1) tractament químic, (2) bombardeig iònic i (3) tractament tèrmic de recuit. En el capítol 5 del projecte s'analitzen les imatges d'una mostra d'or, Au(110), d'estructura coneguda, amb el microscopi d'efecte túnel STM) del laboratori fent servir les puntes obtingudes sota les condicions considerades òptimes. El resultat confirma el bon comportament de les puntes obtingudes sota les condicions descrites en els capítols anteriors i establert una pauta a seguir per obtenir puntes d'una manera senzilla i reproduïble.
Resum: The experimental results obtained during the systematic study of tungsten tips electrochemical preparation for a Scanning Tunnelling Microscope (STM) using two electrolytes: KOH and NaOH are presented Tunnel (STM). In chapter 3, the study of the morphology, length and curvature radius of the tips carried out as a function of the applied voltage and the electrolyte concentrations is described. The characterization of the tips was performed, on one hand, by scanning electronic microscopy (SEM) and on the other hand, through the use of the obtained tips in the STM. In summary, the results show that both electrolytes permit to obtain tips that can be used successfully to obtain good STM images. The best tips are those that were prepared in a range of concentrations in weight between 10 and 15%, 10 and 20% and from 3 to 7 V, 4 to 8 V for NaOH and KOH, respectively. It is observed that the etching times are lower when using NaOH as electrolyte. The treatments required by the W tip in order to eliminate the impurities from its surface are studied in chapter 4. Different tests were carried out using three cleaning methods: (1) chemical treatment, (2) ionic bombardment and (3) thermal annealing. In the chapter 5, the STM images of Au(110)-(1x2), whose structure is known, using the tips obtained under the conditions considered as optimum are analyzed. The result confirms the good behaviour of the tips obtained under the determined conditions in the former chapters and establishes the paths to follow to obtain good STM tips in a simple and reproducible way.
Drets: Aquest document està subjecte a una llicència d'ús de Creative Commons, amb la qual es permet copiar, distribuir i comunicar públicament l'obra sempre que se'n citin l'autor original, la universitat i l'escola i no se'n faci cap ús comercial ni obra derivada, tal com queda estipulat en la llicència d'ús Creative Commons
Llengua: Català
Titulació: Ciència de Materials [5600169]
Col·lecció: Escola d'Enginyeria. Projectes i treballs de final de carrera. Enginyeria de Materials
Document: Treball final de grau
Matèria: Tungstè ; Anàlisi electroquímica ; Microscòpia d'escombratge per efecte túnel



Presentació
36 p, 1.8 MB

Projecte
80 p, 5.4 MB

El registre apareix a les col·leccions:
Documents de recerca > Treballs de recerca i projectes de final de carrera > Enginyeria. TFM

 Registre creat el 2011-05-13, darrera modificació el 2024-01-25



   Favorit i Compartir