To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/15767

Spatial horizons in amplitude and frequency modulation atomic force microscopy
Font Teixidó, Josep; Santos Hernández, Sergio; Barcons Xixons, Víctor; Thomson, Neil H.; Verdaguer, Albert; Chiesa, Matteo
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics; Universitat Politècnica de Catalunya. SEPIC - Sistemes Electrònics de Potència i de Control
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
-Atomic force microscopy
-Modulation (Electronics)
-Microscòpia de força atòmica
-Modulació (Electrònica)
Article - Published version
Article
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Santos Hernández, Sergio; Phillips, M.A.; Verdaguer, Albert; Font Teixidó, Josep; Chiesa, Matteo; Gadelrab,, K.; Stefancich, M.; Armstrong, P.; Li, G.; Souier, T.; Thomson, Neil H.; Barcons Xixons, Víctor
Santos Hernández, Sergio; Barcons Xixons, Víctor; Verdaguer, Albert; Font Teixidó, Josep; Thomson, Neil H.; Chiesa, Mateo
Chiesa, Matteo; Gadelrab, Karim Raafat; Verdaguer, Albert; Segura, Juan José; Barcons Xixons, Víctor; Thomson, Neil H.; Phillips, M.A.; Stefancich, M.; Santos Hernández, Sergio
Santos Hernández, Sergio; Barcons Xixons, Víctor; Verdaguer, Albert; Chiesa, Matteo
Santos Hernández, Sergio; Barcons Xixons, Víctor; Christenson, Hugo K.; Billingsley, Daniel J.; Bonass, William A.; Font Teixidó, Josep; Thomson, Neil H.
 

Coordination

 

Supporters