To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/1110

A Method for the Determination of a Distributed FET Noise-Model Based on Matched-Source Noise-Figure Measurements
Maya Sánchez, Mª del Carmen; Pradell i Cara, Lluís; Lázaro Guillén, Antoni
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions; Universitat Politècnica de Catalunya. RF&MW - Grup de Recerca de sistemes, dispositius i materials de RF i microones
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Radiocomunicació i exploració electromagnètica::Circuits de microones, radiofreqüència i ones mil·limètriques
-Radio wave propagation
-Noise Measurement
-Impedance (Electricity) Measurement.
-Field-effect transistors
-noise-parameters measurement
-FET noise parameters
-distributed FET noise model
-intrinsic noise-correlation matrix
-noise modeling
-electric impedance
-field effect transistors
-noise measurement
-semiconductor device noise
-matched-source noise-figure measurement
-source-impedance state
-Propagació d'ones
-Soroll -- Mesurament
-Transistors d'efecte de camp
-Impedància (Electricitat)
Article
JOHN WILEY & SONS INC
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Maya Sánchez, Mª del Carmen; Lázaro Guillén, Antoni; Pradell i Cara, Lluís
Lázaro Guillén, Antoni; Maya Sánchez, Mª del Carmen; Pradell i Cara, Lluís
Maya Sánchez, Mª del Carmen; Lázaro Guillén, Antoni; Pradell i Cara, Lluís
 

Coordination

 

Supporters