Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/6216
Título:
|
Experimental Characterization of NBTI Effect on pMOSFET and CMOS Inverter
|
Autor/a:
|
Fernández García, Raúl; Kaczer, Ben; Gago Barrio, Javier; Rodríguez, Rosana; Nafría Maqueda, Montserrat
|
Otros autores:
|
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. TIEG - Terrassa Industrial Electronics Group |
Abstract:
|
Peer Reviewed |
Materia(s):
|
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica -Electronic apparatus and appliances -Electrònica--Aparells i instruments |
Derechos:
|
|
Tipo de documento:
|
Artículo - Versión publicada Objeto de conferencia |
Compartir:
|
|
Mostrar el registro completo del ítem