Characterization of EMI filters based on metamaterials

Consultar RECERCAT

Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/6382

Título:	Characterization of EMI filters based on metamaterials
Autor/a:	Gil Galí, Ignacio; Fernández García, Raúl; Vives, Yolanda; Jauregui Tellería, Ricardo; Silva Martínez, Fernando
Otros autores:	Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. IEB - Instrumentació Electrònica i Biomèdica; Universitat Politècnica de Catalunya. TIEG - Terrassa Industrial Electronics Group
Abstract:	This paper analyzes the behavior of EMI filters based on metamaterials. The filters are developed by means of sub-wavelength resonators and designed to have notch-type attenuation in the 2.45 GHz band. Two types of filters based on SRR and CSRR rings are presented. The simulated responses by MoM and FDTD are compared with the measurement data obtained from the developed prototypes.
Abstract:	Peer Reviewed
Materia(s):	-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Electrònica de potència -Electric resonators -Metamaterials -Strip transmission lines -Electromagnetic interference -EMI filters -microstrip -metamaterials -Metamaterials -Filtres elèctrics -Interferència electromàgnetica
Derechos:
Tipo de documento:	Artículo - Versión publicada Objeto de conferencia
Compartir:

Jauregui Tellería, Ricardo; Pous Solà, Marc; Vives, Yolanda; Fernández Chimeno, Mireya; Riu Costa, Pere Joan; Silva Martínez, Fernando

Gil Galí, Ignacio; Fernández García, Raúl; Pous Solà, Marc; Silva Martínez, Fernando

Jauregui Tellería, Ricardo; Ventosa Llopart, Oriol; Silva Martínez, Fernando; Kunze, Marco

Jauregui Tellería, Ricardo; Silva Martínez, Fernando; Heras, Miguel

Jauregui Tellería, Ricardo; Silva Martínez, Fernando; Orlandi, Antonio; Sasse, Hugh; Duffy, Alistair

Coordinación

Patrocinio