Title:
|
Toward understanding the wide distribution of time scales in negative bias temperature instability
|
Author:
|
Kaczer, Ben; Grasser, Tibor; Fernández García, Raúl; Groeseneken, Guido
|
Other authors:
|
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. TIEG - Terrassa Industrial Electronics Group |
Subject(s):
|
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica -Metal oxide semiconductor field-effect transistors -Field-effect transistors -Transistors d'efecte de camp |
Rights:
|
|
Document type:
|
Article - Draft Book Part |
Share:
|
|