Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2117/10168

Factors influencing the successful validation of transient phenomenon modelling
Jauregui Tellería, Ricardo; Silva Martínez, Fernando; Orlandi, Antonio; Sasse, Hugh; Duffy, Alistair
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. IEB - Instrumentació Electrònica i Biomèdica
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Electrònica de potència
-Computational electromagnetics simulation
-Electromagnetic interference
-IEEE standards1597.1
-Frequency-domain analysis
-Electromagnetisme -- Simulació per ordinador
Article - Versió publicada
Objecte de conferència
IEEE Press. Institute of Electrical and Electronics Engineers
         

Mostra el registre complet del document

Documents relacionats

Altres documents del mateix autor/a

Jauregui Telleria, Ricardo Ignacio; Zhang, Gang; Rojas Mora, Julio; Ventosa Llopart, Josep Oriol; Silva Martínez, Fernando; Duffy, Alistair P.; Sasse, Hugh
Jauregui Tellería, Ricardo; Ventosa Llopart, Oriol; Silva Martínez, Fernando; Kunze, Marco
Gil Galí, Ignacio; Fernández García, Raúl; Vives, Yolanda; Jauregui Tellería, Ricardo; Silva Martínez, Fernando
Jauregui Tellería, Ricardo; Silva Martínez, Fernando; Heras, Miguel
Jauregui Tellería, Ricardo; Riu Costa, Pere Joan; Silva Martínez, Fernando