To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2445/32145

Precession electron diffraction in the transmission electron Microscope: electron crystallography and orientational mapping
Portillo i Serra, Joaquim
Universitat de Barcelona
2012-09-28
-Microscòpia electrònica de transmissió
-Anàlisi instrumental
-Difracció d'electrons
-Transmission electron microscopy
-Instrumental analysis
-Electrons diffraction
(c) Universitat de Barcelona, 2012
Book Part
Centres Científics i Tecnològics. Universitat de Barcelona
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Viladot, Désirée; Portillo i Serra, Joaquim; Gemí, Mauro; Nicolopoulos, Stavros; Llorca i Isern, Núria
 

Coordination

 

Supporters