To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/17037

Characterization and modelling of EMI susceptibility in integrated circuits at high frequency
Gil Galí, Ignacio; Fernández García, Raúl
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. TIEG - Terrassa Industrial Electronics Group
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Electrònica de potència
-Amplifiers (Electronics)
-Integrated circuits
-Amplificadors (Electrònica)
-Circuits integrats
Article - Submitted version
Conference Object
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Gil Galí, Ignacio; Fernández García, Raúl; Pous Solà, Marc; Silva Martínez, Fernando
Gil Galí, Ignacio; Fernández García, Raúl; Tornero García, José Antonio
Berbel Artal, Néstor; Fernández García, Raúl; Gil Galí, Ignacio
Moradi, Bahareh; Fernández García, Raúl; Gil Galí, Ignacio
Moradi, Bahareh; Fernández García, Raúl; Gil Galí, Ignacio
 

Coordination

 

Supporters