En este proyecto se diseña y construye un prototipo de banco de test para acelerómetros duales. En primer lugar se hace una revisión del estado del arte y las técnicas empleadas en la actualidad para el test de dispositivos Microelectromecánicos (MEMS). A continuación, se plantea el problema que presentan dichas técnicas y se propone una solución para el test de acelerómetros duales basada en el análisis visual de signaturas analógicas. En el cuerpo del documento, el lector encontrará los detalles y la justificación de todo el procedimiento de diseño electrónico y mecánico del prototipo así como la explicación del software implementado en las diferentes partes que conforman el sistema. Finalmente, se presentan los resultados obtenidos con el prototipo y se confirma mediante ellos la eficacia del sistema de test.