Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2445/32165
Títol:
|
Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS): principles and applications
|
Autor/a:
|
López Fernández, Francisco
|
Altres autors:
|
Universitat de Barcelona |
Abstract:
|
This article outlines the basis of the technique and shows some examples of applications in order to exhibit the expectations of this technique invaried scientific fields. |
Abstract:
|
Podeu consultar el llibre complet a: http://hdl.handle.net/2445/32166 |
Data de publicació:
|
07-11-2013 |
Matèries:
|
-Espectrometria de masses -Anàlisi instrumental -Mass spectrometry -Instrumental analysis |
Drets:
|
(c) Universitat de Barcelona, 2012
|
Tipus de document:
|
Capítol o part de llibre |
Publicat per:
|
Centres Científics i Tecnològics. Universitat de Barcelona
|
Compartir:
|
|
Mostra el registre complet del document