To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/21004
| Title: | A nanometric displacement measurement system using differential optical feedback interferometry |
|---|---|
| Author: | Azcona Guerrero, Francisco Javier; Atashkhooei, Reza; Royo Royo, Santiago; Méndez Astudillo, Jorge; Jha, Ajit |
| Other authors: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Òptica i Optometria; Universitat Politècnica de Catalunya. GREO - Grup de Recerca en Enginyeria Òptica |
| Subject(s): | -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Instrumentació i mesura -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Optoelectrònica -Interferometry -Detectors -Nanoelectronics -Laser sensors -nanodisplacement sensing -optical feedback interferometry -optical metrology -Interferometria -Detectors -Nanoelectrònica |
| Rights: | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
| Document type: | Article - Published version Article |
| Share: |
|
Related documents
Other documents of the same author
Perchoux, Julien; Quotb, Adam; Atashkhooei, Reza; Azcona Guerrero, Francisco Javier; Ramírez Miquet, Evelio E.; Bernal, Olivier; Jha, Ajit; Luna Arriaga, Antonio; Yáñez Alvarado, Carlos René; Caum Aregay, Jesús; Bosch, Thierry; Royo Royo, Santiago
Azcona Guerrero, Francisco Javier; Jha, Ajit; Yáñez Alvarado, Carlos René; Atashkhooei, Reza; Royo Royo, Santiago
Jha, Ajit; Azcona Guerrero, Francisco Javier; Royo Royo, Santiago
Jha, Ajit; Azcona Guerrero, Francisco Javier; Yáñez Alvarado, Carlos René; Royo Royo, Santiago
Arasanz Tena, Andrés; Azcona Guerrero, Francisco Javier; Royo Royo, Santiago; Jha, Ajit; Pladellorens Mallofré, Josep