To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/22468
Title: | Defect-oriented non-intrusive RF test using on-chip temperature sensors |
---|---|
Author: | Abdallah, L.; Stratigopoulos, H. G.; Mir, S.; Altet Sanahujes, Josep |
Other authors: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions |
Abstract: | |
Abstract: | |
Subject(s): | -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Instrumentació i mesura::Sensors i actuadors -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Circuits integrats -Temperature measuring instruments -Integrated circuits -- Verification -Integrated circuit testing -Low noise amplifiers -Radiofrequency amplifiers -Temperature sensors -Termometria -- Aparells i instruments -Circuits integrats -- Verificació |
Rights: | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
Document type: | Article - Published version Conference Object |
Published by: | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
Share: |