Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/22859

Unlocking higher harmonics in atomic force microscopy with gentle interactions
Santos Hernández, Sergio; Barcons Xixons, Víctor; Font Teixidó, Josep; Verdaguer Prats, Albert
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics; Universitat Politècnica de Catalunya. CIRCUIT - Grup de Recerca en Circuits i Sistemes de Comunicació
-Àrees temàtiques de la UPC::Física
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
-Atomic force microscopy
-Nanotechnology
-Atomic force microscopy
-Chemistry
-Composition
-Heterogeneity
-Higher harmonics
-Phase
-Molecular resolution
-Sosft matter
-Mode
-AFM
-Liquid
-Cells
-Live
-Microscòpia de força atòmica
-Nanotecnologia
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
Artículo - Versión publicada
Artículo
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Santos Hernández, Sergio; Lai, Chia-Yun; Amadei, Carlo Alberto; Gadelrab, Karim Raafat; Tang, Tzu-Chieh; Verdaguer Prats, Albert; Barcons Xixons, Víctor; Font Teixidó, Josep; Colchero, Jaimer; Chiesa, Matteo
Font Teixidó, Josep; Santos Hernández, Sergio; Barcons Xixons, Víctor; Thomson, Neil H.; Verdaguer, Albert; Chiesa, Matteo
Santos Hernández, Sergio; Phillips, M.A.; Verdaguer, Albert; Font Teixidó, Josep; Chiesa, Matteo; Gadelrab,, K.; Stefancich, M.; Armstrong, P.; Li, G.; Souier, T.; Thomson, Neil H.; Barcons Xixons, Víctor
Santos Hernández, Sergio; Barcons Xixons, Víctor; Christenson, Hugo K.; Billingsley, Daniel J.; Bonass, William A.; Font Teixidó, Josep; Thomson, Neil H.
Santos Hernández, Sergio; Barcons Xixons, Víctor; Verdaguer, Albert; Font Teixidó, Josep; Thomson, Neil H.; Chiesa, Mateo