Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2117/25636

Títol:	Reliability challenges in design of memristive memories
Autor/a:	Pouyan, Peyman; Amat, Esteve; Rubio Sola, Jose Antonio
Altres autors:	Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions
Matèries:	-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica -Electronics -Memristors -Memristors -Circuits elèctrics
Drets:
Tipus de document:	Article - Versió presentada Objecte de conferència
Compartir:

Mostra el registre complet del document