Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/25966
Título:
|
Process variability-aware proactive reconfiguration technique for mitigating aging effects in nanos scale SRAM lifetime
|
Autor/a:
|
Pouyan, Peyman; Amat Bertran, Esteve; Rubio Sola, Jose Antonio
|
Otros autores:
|
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions |
Abstract:
|
Postprint (published version) |
Materia(s):
|
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica i telecomunicacions -Nanoelectronics. -Integrated circuits. -Nanotecnologia -Nanoelectrònica -Memòries digitals -Circuits integrats |
Derechos:
|
Restricted access - publisher's policy |
Tipo de documento:
|
Objeto de conferencia |
Compartir:
|
|
Mostrar el registro completo del ítem