To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/27315
Title: | Advanced failure detection techniques in deep submicron CMOS integrated circuits |
---|---|
Author: | Rubio Sola, Jose Antonio; Altet Sanahujes, Josep; Mateo Peña, Diego |
Other authors: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions |
Abstract: | |
Abstract: | |
Subject(s): | -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Circuits integrats -Microelectronics -Integrated circuits -Microelectrònica -Circuits integrats |
Rights: | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
Document type: | Article - Published version Conference Object |
Published by: | Pergamon Press |
Share: |