To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/27445
Title: | REEM: failure/non-failure region estimation method for SRAM yield analysis |
---|---|
Author: | Rana, Manish; Canal Corretger, Ramon |
Other authors: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Arquitectura de Computadors; Universitat Politècnica de Catalunya. ARCO - Microarquitectura i Compiladors |
Abstract: | |
Abstract: | |
Subject(s): | -Àrees temàtiques de la UPC::Informàtica::Sistemes d'informació::Emmagatzematge i recuperació de la informació -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Circuits integrats -Memory management (Computer science) -Integrated circuits -Importance sampling -Markov processes -Static random access storage -10x reductions -Estimation methods -Importance sampling method -Markov chain Monte Carlo method -Monotonicity property -Parameter spaces -SPICE simulations -Yield analysis -Gestió de memòria (Informàtica) -Circuits integrats |
Rights: | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
Document type: | Article - Published version Conference Object |
Published by: | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
Share: |