To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/27909
Title: | Metrologia 3D de superfícies extenses |
---|---|
Author: | Royo Royo, Santiago; Ares Rodríguez, Miguel; Riu Gras, Jordi; Panyella, David |
Other authors: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Òptica i Optometria; Universitat Politècnica de Catalunya. GREO - Grup de Recerca en Enginyeria Òptica |
Subject(s): | -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria mecànica -Àrees temàtiques de la UPC::Ciències de la visió::Òptica física -Metrology -Image processing Digital techniques -Stereoscopic cameras -Time-of-flight mass spectrometry -Optical radar -Surfaces (Physics)--Optical properties -Metrologia -Imatges -- Processament -- Tècniques digitals -Visualització tridimensional (Informàtica) -Superfícies (Física) -- Propietats òptiques |
Rights: | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
Document type: | Article - Published version Article |
Share: |