To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/83144
Title: | STT-MRAM cell reliability evaluation under process, voltage and temperature (PVT) variations |
---|---|
Author: | Vatajelu, Elena Ioana; Rodríguez Montañés, Rosa; Indaco, Marco; Prinetto, Paolo; Figueras Pàmies, Joan |
Other authors: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat |
Abstract: | |
Subject(s): | -Àrees temàtiques de la UPC::Informàtica -Magnetic memory (Computers) -reliability -process variation -voltage variation -temperature -STT-MRAM cell -statistical analysis -Memòria magnètica (Ordinadors) |
Rights: | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
Document type: | Article - Published version Conference Object |
Published by: | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
Share: |