To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/86599
Title: | Statistical lifetime analysis of memristive crossbar matrix |
---|---|
Author: | Pouyan, Peyman; Amat, Esteve; Rubio Sola, Jose Antonio |
Other authors: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions |
Abstract: | |
Subject(s): | -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica -Electric engineering -Memristor -Uncertainty -Crossbar -Endurance -Process variability -RRAM -Emerging device -Enginyeria elèctrica -Electrònica -- Materials -Circuits elèctrics |
Rights: | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
Document type: | Article - Published version Conference Object |
Published by: | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
Share: |