Title:
|
Impact of amplitude calibration errors on SMOS global images
|
Author:
|
Durán Martínez, Israel; Corbella Sanahuja, Ignasi; Torres Torres, Francisco; Duffo Ubeda, Núria; Oliva, Roger; Martín Neira, Manuel
|
Other authors:
|
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions; Universitat Politècnica de Catalunya. RF&MW - Grup de Recerca de sistemes, dispositius i materials de RF i microones; Universitat Politècnica de Catalunya. RSLAB - Grup de Recerca en Teledetecció |
Abstract:
|
Some of the artifacts observed in SMOS brightness temperature images are originated in an inconsistency between correlation and antenna temperature calibration errors, which produces a multiplicative bias that scales with the scene mean antenna temperature. Its most important effect, although not the only one, is a land-to-sea contamination near coastal areas, which cannot be easily mitigated by post-processing correction techniques. A simplified end-to-end simulator allows introducing separate errors in both antenna temperature and correlation, thus
providing an important insight on this problem and helping understanding its origin. Results from simulations compare very well with actual results from measured data. |
Abstract:
|
Peer Reviewed |
Subject(s):
|
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Radiocomunicació i exploració electromagnètica::Teledetecció -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Radiocomunicació i exploració electromagnètica::Antenes i agrupacions d'antenes -Soil moisture--Measurement -Remote sensing -Calibration -Antennas -Calibration -Remote sensing -Amplitude calibration error -SMOS global images -SMOS brightness temperature images -Antenna temperature calibration error -Land-to-sea contamination -Coastal area -End-to-end simulator -Sòls -- Humitat -- Mesurament -Teledetecció -Calibratge |
Rights:
|
|
Document type:
|
Article - Published version Conference Object |
Published by:
|
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
|
Share:
|
|