To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/102133

Small scale fracture behaviour of multilayer TiN/CrN systems: Assessment of bilayer thickness effects by means of ex-situ tests on FIB-milled micro-cantilevers
Roa Rovira, Joan Josep; Rodríguez, R.; Lamelas, Victor; Jiménez Piqué, Emilio; Llanes Pitarch, Luis Miguel; Martínez, R.
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Ciència dels Materials i Enginyeria Metal·lúrgica; Universitat Politècnica de Catalunya. CIEFMA - Centre d'Integritat Estructural, Micromecànica i Fiabilitat dels Materials
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria dels materials
-Materials--Fatigue
-Nanostructured materials
-Multilayered TiN/CrN coatings
-Small scale fracture behaviour
-Layer architecture
-Bilayer period
-Micro-cantilevers
-Materials -- Fatiga
-Nanopartícules
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
Article - Submitted version
Article
Elsevier
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Roa Rovira, Joan Josep; Jiménez Piqué, Emilio; Verge, C.; Tarrago, J.M.; Mateo García, Antonio Manuel; Fair, Jonathan; Llanes Pitarch, Luis Miguel
Roa Rovira, Joan Josep; Coll Valentí, Arnau; Bermejo, Sandra; Jiménez Piqué, Emilio; Alcubilla González, Ramón; Castañer Muñoz, Luis María; Llanes Pitarch, Luis Miguel
Roa Rovira, Joan Josep; Jiménez Piqué, Emilio; Salla Tarragó, José María; Mateo García, Antonio Manuel; Sandoval, Daniela A.; Fair, Jonathan; Llanes Pitarch, Luis Miguel
Roa Rovira, Joan Josep; Jiménez Piqué, Emilio; Verge, C.; Tarragó Cifre, Jose María; Mateo García, Antonio Manuel; Fair, Jonathan; Llanes Pitarch, Luis Miguel
Tarragó Cifre, Jose María; Roa Rovira, Joan Josep; Jiménez Piqué, Emilio; Keown, Eugene; Fair, Jonathan; Llanes Pitarch, Luis Miguel
 

Coordination

 

Supporters