Title:
|
TRL calibration applied to the measurement of chip transistor s-parameters up to 40 ghz
|
Author:
|
Pradell i Cara, Lluís; Sabater, C.; Artal, Eduardo; Comerón Tejero, Adolfo; Bará Temes, Francisco Javier; Corbella Sanahuja, Ignasi; Fortuny, J.
|
Other authors:
|
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions; Universitat Politècnica de Catalunya. RF&MW - Grup de Recerca de sistemes, dispositius i materials de RF i microones; Universitat Politècnica de Catalunya. RSLAB - Grup de Recerca en Teledetecció |
Abstract:
|
Peer Reviewed |
Subject(s):
|
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Radiocomunicació i exploració electromagnètica -Calibration -Transistors -Calibration -Coaxial components -Frequency measurement -Calibratge -Transistors |
Rights:
|
|
Document type:
|
Article - Published version Conference Object |
Published by:
|
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
|
Share:
|
|