Different instruments and techniques allow the observation of transverse profiles of particle beams. This document talks about the Secondary Emission Monitors (SEM) used at CERN. It includes an explanation about the physics behind SEM, their performance and limitations. All of this within the context of LINAC4. Special attention given to the Slit-grid system in the 3MeV Test Stand and the H0H- monitors in the PSB HST.

Diferentes instrumentos y técnicas permiten la observación de perfiles transversales de los haces de partículas. Este documento habla de los Monitores de Emisión Secundaria (SEM) utilizados en el CERN. Incluye una breve explicación sobre la física tras los SEM, sus utilidades y limitaciones. Todo ello dentro del contexto del LINAC4. Se le da especial atención al sistema Slit-Grid utilizado por el 3MeV Test Stand i los monitores de H0H- usados en el PSB HST.

Diferents instruments i tècniques permeten l'observació de perfils transversals dels feixos de partícules. Aquest document parla dels Monitors d'Emissió Secundària (SEM) utilitzats al CERN. Inclou una breu explicació sobre la física darrere els SEM, les seves utilitats i limitacions. Tot això dintre el context del LINAC4. Especial atenció es dóna al sistema Slit-Grid utilitzat pel 3MeV Test Stand i els monitors de H0H- utilitzats en el PSB HST.