To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/14597
| dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica |
|---|---|
| dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat |
| dc.contributor.author | Rodríguez Montañés, Rosa |
| dc.contributor.author | Arumi Delgado, Daniel |
| dc.contributor.author | Figueras Pàmies, Joan |
| dc.contributor.author | Castillo Muñoz, Raul |
| dc.date | 2011 |
| dc.identifier.citation | Rodríguez-Montañés, R. [et al.]. 8T SRAM Cell with Open Defects under Voltage and Timing Variations. A: Conference on Design of Circuits and Integrated Systems. "DCIS 2011". Albufeira: 2011, p. 155-160. |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/14597 |
| dc.language.iso | eng |
| dc.rights | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain |
| dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
| dc.rights | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
| dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica |
| dc.subject | Memòria ràpida de treball (Informàtica) |
| dc.title | 8T SRAM Cell with Open Defects under Voltage and Timing Variations |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject |
Related documents
Other documents of the same author
Arumi Delgado, Daniel; Rodríguez Montañés, Rosa; Figueras Pàmies, Joan; Eichenberger, Stefan; Hora, C.; Kruseman, Bram
Arumi Delgado, Daniel; Rodríguez Montañés, Rosa; Figueras Pàmies, Joan
Rodríguez Montañés, Rosa; Arumi Delgado, Daniel; Figueras Pàmies, Joan; Eichenberger, Stefan; Hora, Camelia; Kruseman, Bram; Lousberg, M.; Majhi, A.K.
Rodríguez Montañés, Rosa; Arumi Delgado, Daniel; Figueras Pàmies, Joan; Beverloo, Willem; Vries, Dirk K. de; Eichenberger, Stefan; Volf, Paul A. J.
Rodríguez Montañés, Rosa; Arumi Delgado, Daniel; Figueras Pàmies, Joan; Eichenberger, S.; Hora, Camelia; Kruseman, B.