To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/1482
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica |
---|---|
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions |
dc.contributor.author | Andrade Miceli, Dennis Michael |
dc.contributor.author | Martorell Cid, Ferran |
dc.contributor.author | Pons Solé, Marc |
dc.contributor.author | Moll Echeto, Francisco de Borja |
dc.contributor.author | Rubio, Antonio |
dc.date | 2007-06 |
dc.identifier.citation | Andrade, D.; Martorell, F.; Pons, M.; Moll, F.; Rubio, A.; Power supply noise and logic error probability. European Conference on Circuit Theory and Design 2007. |
dc.identifier.citation | 1-4244-1342-7 |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/1482 |
dc.language.iso | eng |
dc.relation | European Conference on Circuit Theory and Design |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Circuits integrats |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Processadors digitals |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica |
dc.subject | Integrated circuits Computer-aided design Statistical methods. |
dc.subject | Integrated circuits Ultra large scale integration |
dc.subject | Power supply noise |
dc.subject | Error probability |
dc.subject | Circuits integrats a molt gran escala -- Defectes -- Models matemàtics |
dc.subject | Circuits integrats -- CMOS |
dc.title | Power supply noise and logic error probability |
dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject |
dc.description.abstract | |
dc.description.abstract |