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Analyzing transient phenomena in the time domain using the Feature Selective Validation (FSV) method
Jauregui Telleria, Ricardo Ignacio; Zhang, Gang; Rojas Mora, Julio; Ventosa Llopart, Josep Oriol; Silva Martínez, Fernando; Duffy, Alistair P.; Sasse, Hugh
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. IEB - Instrumentació Electrònica i Biomèdica
-Àrees temàtiques de la UPC::Física::Electromagnetisme
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
-Electromagnetisme -- Matemàtica
-Computational electromagnetics method (CEM)
-Computer simulation
-Data comparison
-Feature selective validation (FSV) method
-Numerical simulation
-Transient
-Validation
-Computational electromagnetics CEM
-Performance
-Electromagnetism -- Mathematics
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
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Ventosa Llopart, Josep Oriol; Pous Solà, Marc; Silva Martínez, Fernando; Jauregui Telleria, Ricardo Ignacio
Zhang, Gang; Duffy, Alistair P.; Saxe, Hugh; Wang, Lixin; Jauregui Tellería, Ricardo
Jauregui Tellería, Ricardo; Silva Martínez, Fernando; Orlandi, Antonio; Sasse, Hugh; Duffy, Alistair
Ruiz-Cabello Nuñez, Miguel David; Fernández Romero, Sergio; Pous Solà, Marc; Silva Martínez, Fernando; Fernández Chimeno, Mireya; Riu Costa, Pere Joan; Jauregui Telleria, Ricardo Ignacio