Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/25228
Título:
|
SRAM cell stability metric under transient voltage noise
|
Autor/a:
|
Vatajelu, Elena Ioana; Gómez Pau, Álvaro; Renovell, Michel; Figueras Pàmies, Joan
|
Otros autores:
|
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat |
Materia(s):
|
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica -Electronics -Memòries digitals |
Derechos:
|
|
Tipo de documento:
|
Artículo - Versión publicada Artículo |
Compartir:
|
|
Mostrar el registro completo del ítem