Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2117/25966

Títol:	Process variability-aware proactive reconfiguration technique for mitigating aging effects in nanos scale SRAM lifetime
Autor/a:	Pouyan, Peyman; Amat Bertran, Esteve; Rubio Sola, Jose Antonio
Altres autors:	Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions
Abstract:	Postprint (published version)
Matèries:	-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica i telecomunicacions -Nanoelectronics. -Integrated circuits. -Nanotecnologia -Nanoelectrònica -Memòries digitals -Circuits integrats
Drets:	Restricted access - publisher's policy
Tipus de document:	Objecte de conferència
Compartir:

Mostra el registre complet del document