Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/76907
Título: | Periodicity in bimodal atomic force microscopy |
---|---|
Autor/a: | Lai, Chia-Yun; Barcons Xixons, Víctor; Santos, Sergio; Chiesa, Matteo |
Otros autores: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics; Universitat Politècnica de Catalunya. CIRCUIT - Grup de Recerca en Circuits i Sistemes de Comunicació |
Abstract: | |
Abstract: | |
Materia(s): | -Àrees temàtiques de la UPC::Física -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica -Atomic force microscopy -Sosft matter -Mode -Contrast -Excitation -Regimes -Energy -Liquid -Microscòpia de força atòmica |
Derechos: | http://creativecommons.org/licenses/by/3.0/es/ |
Tipo de documento: | Artículo - Versión publicada Artículo |
Editor: | American Institute of Physics (AIP) |
Compartir: |