Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/76907

Periodicity in bimodal atomic force microscopy
Lai, Chia-Yun; Barcons Xixons, Víctor; Santos, Sergio; Chiesa, Matteo
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics; Universitat Politècnica de Catalunya. CIRCUIT - Grup de Recerca en Circuits i Sistemes de Comunicació
-Àrees temàtiques de la UPC::Física
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
-Atomic force microscopy
-Sosft matter
-Mode
-Contrast
-Excitation
-Regimes
-Energy
-Liquid
-Microscòpia de força atòmica
http://creativecommons.org/licenses/by/3.0/es/
Artículo - Versión publicada
Artículo
American Institute of Physics (AIP)
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Chang, Yun-Hsiang, Yun-Hsiang; Olukan, Tuza; Lai, Chia-Yun; Santos, Sergio; Lin, Tze-Yu; Apostoleris, Harry; Font Teixidó, Josep; Barcons Xixons, Víctor; Chiesa, Matteo
Santos Hernández, Sergio; Lai, Chia-Yun; Amadei, Carlo Alberto; Gadelrab, Karim Raafat; Tang, Tzu-Chieh; Verdaguer Prats, Albert; Barcons Xixons, Víctor; Font Teixidó, Josep; Colchero, Jaimer; Chiesa, Matteo
Amadei, Carlo A.; Lai, Chia-Yun; Esplandiu Egido, Maria José; Alzina, Francesc; Vecitis, Chad D.; Verdaguer Prats, Albert; Chiesa, Matteo
Gadelrab, Karim Raafat; Santos, Sergio; Font Teixidó, Josep; Chiesa, Matteo
Santos Hernández, Sergio; Barcons Xixons, Víctor; Verdaguer, Albert; Chiesa, Matteo