Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/86682
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica |
---|---|
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. e-CAT - Circuits i Transductors Electrònics |
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions |
dc.contributor.author | Reverter Cubarsí, Ferran |
dc.contributor.author | Perpinyà, Xavier |
dc.contributor.author | Leon, Javier |
dc.contributor.author | Vellvehi, Miquel |
dc.contributor.author | Jordà, Xavier |
dc.contributor.author | Altet Sanahujes, Josep |
dc.date | 2015 |
dc.identifier.citation | Reverter, F., Perpinyà, X., Leon, J., Vellvehi, M., Jordà, X., Altet, J. Characterization of MOSFET temperature sensors for on-chip dynamic thermal measurements. A: Eurosensors. "Procedia Engineering". 2015, p. 836-839. |
dc.identifier.citation | 10.1016/j.proeng.2015.08.699 |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/86682 |
dc.language.iso | eng |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.rights | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica |
dc.subject | Detectors |
dc.subject | IC testing |
dc.subject | MOSFET |
dc.subject | temperature sensor |
dc.subject | thermal coupling |
dc.subject | thermal testing |
dc.subject | Detectors |
dc.title | Characterization of MOSFET temperature sensors for on-chip dynamic thermal measurements |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject |