To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/83562
| Title: | Caracterización de transistores de Microoendas mediante la técnica de Calibrción TRL |
|---|---|
| Author: | Pradell i Cara, Lluís; Sabater, C; Artal, E; Comerón Tejero, Adolfo; Corbella Sanahuja, Ignasi |
| Other authors: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions; Universitat Politècnica de Catalunya. RF&MW - Grup de Recerca de sistemes, dispositius i materials de RF i microones; Universitat Politècnica de Catalunya. RSLAB - Grup de Recerca en Teledetecció |
| Abstract: | |
| Subject(s): | -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació -Transistors -Transistors |
| Rights: | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
| Document type: | Article - Published version Conference Object |
| Published by: | - |
| Share: |
|
Related documents
Other documents of the same author
Corbella Sanahuja, Ignasi; Berenguer Sau, Jordi; Pradell i Cara, Lluís; Comerón Tejero, Adolfo; Bará, J; Artal, E
Artal, E; Bará, J; Berenguer Sau, Jordi; Comerón Tejero, Adolfo; Corbella Sanahuja, Ignasi; Pradell i Cara, Lluís
Pradell i Cara, Lluís; Artal, E; Sabater, C
Artal, E; Corbella Sanahuja, Ignasi; Busquets, C; Pradell i Cara, Lluís
Pradell i Cara, Lluís; Corbella Sanahuja, Ignasi; Comerón Tejero, Adolfo; Bará Temes, Francisco Javier; Artal, E.; Torres Torres, Francisco; Purroy, Francesc; Barlabe Dalmau, Antoni; Sales, V.