To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/84420
| Title: | Medida de parámetros S de transistores chip hasta 40 ghz utilizando calibración TRL |
|---|---|
| Author: | Pradell i Cara, Lluís; Sabater, C.; Artal, E.; Comerón Tejero, Adolfo; Bará Temes, Francisco Javier; Corbella Sanahuja, Ignasi; Fortuny, J. |
| Other authors: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions; Universitat Politècnica de Catalunya. RF&MW - Grup de Recerca de sistemes, dispositius i materials de RF i microones; Universitat Politècnica de Catalunya. RSLAB - Grup de Recerca en Teledetecció |
| Abstract: | |
| Subject(s): | -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Radiocomunicació i exploració electromagnètica -Transistors -Calibration -Transistors -Calibratge |
| Rights: | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
| Document type: | Article - Published version Conference Object |
| Share: |
|
Related documents
Other documents of the same author
Pradell i Cara, Lluís; Sabater, C.; Artal, Eduardo; Comerón Tejero, Adolfo; Bará Temes, Francisco Javier; Corbella Sanahuja, Ignasi; Fortuny, J.
Pradell i Cara, Lluís; Corbella Sanahuja, Ignasi; Comerón Tejero, Adolfo; Bará Temes, Francisco Javier; Artal, E.; Torres Torres, Francisco; Purroy, Francesc; Barlabe Dalmau, Antoni; Sales, V.
Pradell i Cara, Lluís; Artal, Eduardo; Comerón Tejero, Adolfo; Corbella Sanahuja, Ignasi; Sabater, C.
Borràs, S.; Pradell i Cara, Lluís; Comerón Tejero, Adolfo; Artal, E.
Artal, E.; Cardama Aznar, Ángel; Comerón Tejero, Adolfo; Corbella Sanahuja, Ignasi; Elias Fusté, Antoni; Ferrando, M.; Jofre Roca, Lluís; de los Reyes, Elías