Accuracy considerations in surface impedance measurements

Inicio | ¿Qué es? | Contacto

English | Català

Consultar RECERCAT

Por comunidades y
colecciones Por fecha Por autores Por títulos Por temas (CDU)

Consultar departamento

Por fecha Por autores Por títulos Por temas (CDU)

Estadisticas

Del documento Todo RECERCAT

Mi RECERCAT

Entrar Alertas por correo-e

Directorio de otros repositorios

RECERCAT Principal > Universitat Politècnica de Catalunya > Documents de recerca > Visualizar documento

Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/86303

dc.contributor	Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions
dc.contributor	Universitat Politècnica de Catalunya. RF&MW - Grup de Recerca de sistemes, dispositius i materials de RF i microones
dc.contributor	Universitat Politècnica de Catalunya. CSC - Components and Systems for Communications Research Group
dc.contributor.author	O'Callaghan Castellà, Juan Manuel
dc.contributor.author	Sans, C
dc.contributor.author	Pous Andrés, Rafael
dc.contributor.author	Collado Gómez, Juan Carlos
dc.contributor.author	Canet, E
dc.date	1997-06
dc.identifier.citation	O'callaghan, J., Sans, C., Pous, R., Collado, J., Canet, E. Accuracy considerations in surface impedance measurements. "IEEE transactions on applied superconductivity", Juny 1997, vol. 7, núm. 2, p. 1869-1872.
dc.identifier.citation	1051-8223
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/2117/86303
dc.language.iso	eng
dc.rights	info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights	http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
dc.subject	Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
dc.subject	Electronics
dc.subject	Electrònica
dc.title	Accuracy considerations in surface impedance measurements
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type	info:eu-repo/semantics/article
dc.description.abstract	An approach is proposied for the design, measurement and data extraction of superconducting microstrip resonators used in determination of surface resistance and penetration depth. Major sources of error are analyzed and procedures to minimize them are given.
dc.description.abstract	Peer Reviewed

Mostrar el registro sencillo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Full wave modelling of hts dual mode patch filters and staggered coupled-line filters

Flores, A; Collado, C; Sans, C; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel; Pous Andrés, Rafael; Fontcuberta, J

Full wave analysis of the image hybrid dielectric/hts resonator

Sans, C; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel; Sancho, D; Pous Andrés, Rafael; Fontcuberta, J; Ji-Fuh, Liang; Guo-Chun, Liang

Full wave analysis of the image hybrid dielectric/HTS resonator

Sans, C; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel; Sancho, D; Pous Andrés, Rafael; Fontcuberta, J; Ji-Fuh, Liang; Guo-Chun, Liang

Numerical optimization of hybrid dielectric/HTS resonators for surface impedance evaluation of HTS films

Collado Gómez, Juan Carlos; Gonzalo, David; Rozan, Edouard; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel; Sans, C

Accuracy considerations in microstrip surface impedance measurements

O'Callaghan Castellà, Juan Manuel; Sans, C.; Collado Gómez, Juan Carlos; Canet Grau, Eduard; Pous Andrés, Rafael; Fontcuberta, Josep

Accesibilidad | Aviso legal | Política de Cookies | Documentos de uso interno

Coordinación

Patrocinio