Title: | Monitoring defects in III-V materials : a nanoscale CAFM study |
---|---|
Author: | Iglesias, V.; Wu, Q.; Porti i Pujal, Marc; Nafría i Maqueda, Montserrat; Bersuker, G.; Cordes, A. |
Abstract: | |
Subject(s): | -High mobility substrates -III-V semiconductors -Threading dislocations -CAFM |
Rights: | open access
Aquest document està subjecte a una llicència d'ús Creative Commons. Es permet la reproducció total o parcial i la comunicació pública de l'obra, sempre que no sigui amb finalitats comercials, i sempre que es reconegui l'autoria de l'obra original. No es permet la creació d'obres derivades. https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/ |
Document type: | Article |
Published by: | |
Share: | |
Uri: | https://ddd.uab.cat/record/136896 |