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Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/7375

Título: Non-invasive RF built-in testing using on-chip temperature sensors
Autor/a: Aldrete Vidrio, Héctor; Onabajo, M.; Altet Sanahujes, Josep; Mateo Peña, Diego; Silva-Martínez, José
Otros autores: Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions
Abstract:
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Materia(s): -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Circuits electrònics
-Radio frequency integrated circuits
-Circuits integrats -- Disseny
Derechos:
Tipo de documento: Artículo - Versión publicada
Otros
Editor: IEEE Computer Society Publications
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