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RECERCAT Principal > Universitat Politècnica de Catalunya > Documents de recerca > Visualizar documento

Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/7375

dc.contributor Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica
dc.contributor Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions
dc.contributor.author Aldrete Vidrio, Héctor
dc.contributor.author Onabajo, M.
dc.contributor.author Altet Sanahujes, Josep
dc.contributor.author Mateo Peña, Diego
dc.contributor.author Silva-Martínez, José
dc.date 2009-11
dc.identifier.citation Aldrete, H. [et al.]. Non-invasive RF built-in testing using on-chip temperature sensors. A: 2009 International Test Conference (ITC). "2009 International Test Conference". Austin, Texas: IEEE Computer Society Publications, 2009, p. 1-4.
dc.identifier.citation 978-1-4244-4867-8
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/2117/7375
dc.language.iso eng
dc.publisher IEEE Computer Society Publications
dc.relation http://www.itctestweek.org/
dc.rights info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.subject Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Circuits electrònics
dc.subject Radio frequency integrated circuits
dc.subject Circuits integrats -- Disseny
dc.title Non-invasive RF built-in testing using on-chip temperature sensors
dc.type info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type info:eu-repo/semantics/other
dc.description.abstract
dc.description.abstract

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