Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2445/24296

Use of information on the manufacture of samples for the optical characterization of multilayers through a global optimization
Sancho i Parramon, Jordi; Ferré Borrull, Josep; Bosch i Puig, Salvador; Ferrara, Maria Christina
Universitat de Barcelona
Òptica electrònica
Electron optics
(c) Optical Society of America, 2003
Article
Article - Versió publicada
Optical Society of America
         

Mostra el registre complet del document

Documents relacionats

Altres documents del mateix autor/a

Wolf, T.; Gutmann, B.; Weber, H.; Ferré Borrull, Josep; Bosch i Puig, Salvador; Vallmitjana i Rico, Santiago
Ristau, Detlev; Günster, Stefan; Bosch i Puig, Salvador; Duparré, Angela; Masetti, Enrico; Ferré Borrull, Josep; Kiriakidis, George; Peiró Martínez, Francisca; Quesnel, Etienne; Tihhonravov, Alexander
Arteaga Barriel, Oriol; Sancho i Parramon, Jordi; Nichols, Shane; Maoz, Ben M.; Canillas i Biosca, Adolf; Bosch i Puig, Salvador; Markovich, Gil; Kahr, Bart
Barroso, F.; Bosch i Puig, Salvador; Tort Escribà, Núria; Arteaga Barriel, Oriol; Sancho i Parramon, Jordi; Jover, Eric; Bertran Serra, Enric; Canillas i Biosca, Adolf