Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2445/32145

Precession electron diffraction in the transmission electron Microscope: electron crystallography and orientational mapping
Portillo i Serra, Joaquim
Universitat de Barcelona
28-09-2012
-Microscòpia electrònica de transmissió
-Anàlisi instrumental
-Difracció d'electrons
-Transmission electron microscopy
-Instrumental analysis
-Electrons diffraction
(c) Universitat de Barcelona, 2012
Capítulo o parte de libro
Centres Científics i Tecnològics. Universitat de Barcelona
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Viladot, Désirée; Portillo i Serra, Joaquim; Gemí, Mauro; Nicolopoulos, Stavros; Llorca i Isern, Núria