Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2445/32145
dc.contributor | Universitat de Barcelona |
---|---|
dc.contributor.author | Portillo i Serra, Joaquim |
dc.date | 2012-09-28T14:05:24Z |
dc.date | 2012-09-28T14:05:24Z |
dc.date | 2012 |
dc.date.accessioned | 2012-09-28T22:21:18Z |
dc.date.available | 2012-09-28T22:21:18Z |
dc.date.issued | 2012-09-28T22:21:18Z |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2445/32145 |
dc.format | 10 p. |
dc.format | application/pdf |
dc.language.iso | eng |
dc.publisher | Centres Científics i Tecnològics. Universitat de Barcelona |
dc.relation | Reproducció del document original |
dc.relation | Capítol del llibre: Handbook of instrumental techniques for materials, chemical and biosciences research, Centres Científics i Tecnològics. Universitat de Barcelona, Barcelona, 2012. Part I. Materials technologies (MT), MT.3, 10 p. |
dc.relation | http://hdl.handle.net/2445/32166 |
dc.rights | (c) Universitat de Barcelona, 2012 |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.subject | Microscòpia electrònica de transmissió |
dc.subject | Anàlisi instrumental |
dc.subject | Difracció d'electrons |
dc.subject | Transmission electron microscopy |
dc.subject | Instrumental analysis |
dc.subject | Electrons diffraction |
dc.title | Precession electron diffraction in the transmission electron Microscope: electron crystallography and orientational mapping |
dc.type | info:eu-repo/semantics/bookPart |
dc.description.abstract | |
dc.description.abstract |