Pàgina inicial del RECERCAT
>
Universitat Politècnica de Catalunya
>
Documents de recerca
>
Visualitza document
Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2117/20392
| Títol: | Systematic and random variability analysis of two different 6T-SRAM layout topologies |
|---|---|
| Autor/a: | Amat Bertran, Esteve; Amatlle, E.; Gómez González, Sergio; Aymerich Capdevila, Nivard; García Almudéver, Carmen; Moll Echeto, Francisco de Borja; Rubio Sola, Jose Antonio |
| Altres autors: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions |
| Matèries: | -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica -Àrees temàtiques de la UPC::Informàtica -Computer storage devices -Memory management (Computer science) -6T-SRAM -Degradation -Regular layout -Variability -Memòries digitals -Ordinadors -- Dispositius de memòria -Gestió de memòria (Informàtica) |
| Drets: | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
| Tipus de document: | Article - Versió publicada Article |
| Compartir: |
|
Documents relacionats
Altres documents del mateix autor/a
Amat Bertran, Esteve; García Almudéver, Carmen; Aymerich Capdevila, Nivard; Canal Corretger, Ramon; Rubio Sola, Jose Antonio
Amat Bertran, Esteve; Calomarde Palomino, Antonio; García Almudéver, Carmen; Aymerich Capdevila, Nivard; Canal Corretger, Ramon; Rubio Sola, Jose Antonio
Amat Bertran, Esteve; García Almudéver, Carmen; Aymerich, N.; Canal Corretger, Ramon; Rubio Sola, Jose Antonio
Amat Bertran, Esteve; Calomarde Palomino, Antonio; Almudever, Carmen G.; Aymerich Capdevila, Nivard; Canal Corretger, Ramon; Rubio Sola, Jose Antonio
Calomarde Palomino, Antonio; Amat Bertran, Esteve; Moll Echeto, Francisco de Borja; Rubio Sola, Jose Antonio