Pàgina inicial del RECERCAT
>
Universitat Politècnica de Catalunya
>
Documents de recerca
>
Visualitza document
Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2117/102287
| Títol: | Nuevas líneas de trabajo en metrología óptica en el CD6 de la UPC |
|---|---|
| Autor/a: | Royo Royo, Santiago; Arasa Marti, Jose; Ares Rodríguez, Miguel; Atashkhooei, Reza; Azcona Guerrero, Francisco Javier; Caum Aregay, Jesús; Riu Gras, Jordi; Sergievskaya, Irina; Suc, Vicent |
| Altres autors: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Òptica i Optometria; Universitat Politècnica de Catalunya. GREO - Grup de Recerca en Enginyeria Òptica |
| Matèries: | -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria mecànica::Metrologia -Àrees temàtiques de la UPC::Ciències de la visió::Òptica física -Metrology -Optics -Measuring instruments -Metrologia -Instrumentació -- Mesurament -Òptica |
| Drets: | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
| Tipus de document: | Article - Versió presentada Objecte de conferència |
| Compartir: |
|
Documents relacionats
Altres documents del mateix autor/a
Caum Aregay, Jesús; Arasa Marti, Jose; Royo Royo, Santiago; Ares Rodríguez, Miguel
Caum Aregay, Jesús; Arasa Marti, Jose; Royo Royo, Santiago; Ares Rodríguez, Miguel
Perchoux, Julien; Quotb, Adam; Atashkhooei, Reza; Azcona Guerrero, Francisco Javier; Ramírez Miquet, Evelio E.; Bernal, Olivier; Jha, Ajit; Luna Arriaga, Antonio; Yáñez Alvarado, Carlos René; Caum Aregay, Jesús; Bosch, Thierry; Royo Royo, Santiago
Royo Royo, Santiago; Ares Rodríguez, Miguel; Riu Gras, Jordi; Panyella, David
Ares Rodríguez, Miguel; Royo Royo, Santiago; Caum Aregay, Jesús; Pizarro Bondia, Carlos