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Imaging Nanometer Phase Coexistence at Defects During the Insulator−Metal Phase Transformation in VO2 Thin Films by Resonant Soft X‑ray Holography
Vidas, Luciana; Günther, Christian M.; Miller, Timothy A.; Pfau, Bastian; Perez-Salinas, Daniel; Martínez, Elías; Schneider, Michael; Guehers, Erik; Gargiani, Pierluigi; Valvidares, Manuel; Marvel, Robert E.; Hallman, Kent A.; Haglund, Richard F.; Eisebitt, Stefan; Wall, Simon
Universitat Politècnica de Catalunya. Institut de Ciències de l'Educació
Àrees temàtiques de la UPC::Física
Holography
holography
Holografia
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
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Artículo
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