Levantamiento TLS como base en el análisis del trazo oculto de pinturas en geometrías complejas. RGB, Intensidad y características geométricas, como base para el estudio de las pinturas de Santa Maria de Terrassa.

All of RECERCAT

To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/16964

Title:	Levantamiento TLS como base en el análisis del trazo oculto de pinturas en geometrías complejas. RGB, Intensidad y características geométricas, como base para el estudio de las pinturas de Santa Maria de Terrassa.
Author:	Corso Sarmiento, Juan Manuel
Other authors:	Universitat Politècnica de Catalunya. CPSV - Centre de Política de Sòl i Valoracions
Subject(s):	-Àrees temàtiques de la UPC::Arquitectura::Sistemes de representació arquitectònica -Scanning systems -Imatges -- Processament -- Tècniques digitals -Escàner, Sistemes d' -Esglésies -- Catalunya -- Terrassa
Rights:
Document type:	Article - Draft Report
Share: