To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/23425
Title: | Corrections on “Failure Transition Distance-Based Importance Sampling Schemes for the Simulation of Repairable Fault-Tolerant Computer Systems" |
---|---|
Author: | Carrasco, Juan A. |
Other authors: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat |
Abstract: | |
Subject(s): | -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Sistemes digitals programables -Electric measurements - Instruments -Electrònica--Mesuraments--Aparells i instruments |
Rights: | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
Document type: | Article - Published version Article |
Published by: | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
Share: |