Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/88794
Título: | Behavioral data of thin-film single junction amorphous silicon (a-Si) photovoltaic modules under outdoor long term exposure |
---|---|
Autor/a: | Kichou, Sofiane; Silvestre Bergés, Santiago; Nofuentes Garrido, Gustavo; Torres Ramírez, Miguel; Chouder, Aissa; Guasch Murillo, Daniel |
Otros autores: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Telemàtica; Universitat Politècnica de Catalunya. MNT - Grup de Recerca en Micro i Nanotecnologies; Universitat Politècnica de Catalunya. BAMPLA - Disseny i Avaluació de Xarxes i Serveis de Banda Ampla |
Abstract: | |
Abstract: | |
Materia(s): | -Àrees temàtiques de la UPC::Energies -Photovoltaic power generation -Light-induced degradation(LID) -a-Si PVmodules -Stabilization period -Photovoltaic systems -a-Si PV module degradation analysis -Energia fotovoltaica -- Generació |
Derechos: | http://creativecommons.org/licenses/by/3.0/es/ |
Tipo de documento: | Artículo - Versión publicada Artículo |
Editor: | Elsevier |
Compartir: |