To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/86303

Accuracy considerations in surface impedance measurements
O'Callaghan Castellà, Juan Manuel; Sans, C; Pous Andrés, Rafael; Collado Gómez, Juan Carlos; Canet, E
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions; Universitat Politècnica de Catalunya. RF&MW - Grup de Recerca de sistemes, dispositius i materials de RF i microones; Universitat Politècnica de Catalunya. CSC - Components and Systems for Communications Research Group
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
-Electronics
-Electrònica
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
Article - Published version
Article
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Flores, A; Collado, C; Sans, C; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel; Pous Andrés, Rafael; Fontcuberta, J
Sans, C; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel; Sancho, D; Pous Andrés, Rafael; Fontcuberta, J; Ji-Fuh, Liang; Guo-Chun, Liang
Sans, C; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel; Sancho, D; Pous Andrés, Rafael; Fontcuberta, J; Ji-Fuh, Liang; Guo-Chun, Liang
Collado Gómez, Juan Carlos; Gonzalo, David; Rozan, Edouard; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel; Sans, C
O'Callaghan Castellà, Juan Manuel; Sans, C.; Collado Gómez, Juan Carlos; Canet Grau, Eduard; Pous Andrés, Rafael; Fontcuberta, Josep
 

Coordination

 

Supporters