Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/168367

Characterization of speckle patterns generated by a semiconductor laser with optical feedback for speckle reduction in retinal imaging instruments
Halpaap, Donatus; Tiana Alsina, Jordi; Vilaseca Ricart, Meritxell; Masoller Alonso, Cristina
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Física; Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Òptica i Optometria; Universitat Politècnica de Catalunya. DONLL - Dinàmica no Lineal, Òptica no Lineal i Làsers; Universitat Politècnica de Catalunya. GREO - Grup de Recerca en Enginyeria Òptica
-Àrees temàtiques de la UPC::Ciències de la visió
-Eye--Accommodation and refraction
-Optical measurements
-Retina
-Speckle reduction
-Double pass imaging
-Eye optical quality
-Ulls -- Acomodació i refracció
-Òptica -- Mesuraments
-Retina
Artículo - Versión publicada
Objeto de conferencia
International Society for Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE)
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Halpaap, Donatus; Tiana Alsina, Jordi; Vilaseca Ricart, Meritxell; Masoller Alonso, Cristina
Tiana Alsina, Jordi; Quintero Quiroz, Carlos Alberto; Panozzo, M.; Torrent Serra, Maria del Carmen; Masoller Alonso, Cristina
Aragoneses Aguado, Andrés; Rubido, Nicolás; Tiana Alsina, Jordi; Torrent Serra, Maria del Carmen; Masoller Alonso, Cristina
Tiana Alsina, Jordi; Quintero Quiroz, Carlos Alberto; Torrent Serra, Maria del Carmen; Masoller Alonso, Cristina
Tiana Alsina, Jordi; Quintero Quiroz, Carlos Alberto; Masoller Alonso, Cristina